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產品介紹
AXUV 探測器係列可對 0.0124 至 190 nm 的光子、電子或 X 射線進行高性能測量，並能探測 100 eV 至 50 keV 的能量，內部量子效率高。溫度超過這些參數可能會在有源區產生氧化物生長。隨著時間的推移，對低能量輻射和波長低於 150 nm 的輻射的響應能力將受到影響。取下蓋子之前，請閱讀應用說明 “檢測器的操作注意事項”。發貨時附帶臨時蓋子，以保護光電二極管陣列和導線接合處。
性能特點
探測麵積大
從紫外光譜到可見光譜的量子效率均為 100
無窗，可增強 200 nm以下的響應
圓形活動區域
電子探測的適配選擇
高速
保護蓋板
技術參數
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產地 |
美國 |
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25 ℃ 時的電子光學特性 |
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有源麵積 9 mm |
63 mm2 |
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反向擊穿電壓，VR IR = 1 µA |
160 V |
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電容，C VR = 0 V |
700 至 2000 pF |
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上升時間 RL = 50 Ω，VR = 150 V |
10 μs |
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暗電流 VR = 150 V |
100 nA |
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熱參數 |
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環境溫度 |
-10 至 40 ℃ |
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氮氣或真空 |
-20 至 80 ℃ |
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引線焊接溫度 |
260 ℃ |
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距離外殼 |
0.080 英寸 |
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持續時長 |
10 秒 |
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防護措施 |
臨時蓋子 |
產品尺寸
產品應用
電子探測、同步輻射監測
津公網安備12010102000946號
