SPEKTRA生產測試係統S-TEST 16 Fab

S-TEST/16 Fab是一種用於具有數字接口的傳感器的緊湊型係統級測試解決方案（SLT）。它可用於測試和表征多達16個IO引yin腳jiao的de數shu字zi傳chuan感gan器qi。該gai係xi統tong專zhuan為wei大da規gui模mo生sheng產chan環huan境jing和he測ce試shi平ping台tai而er設she計ji。它ta允yun許xu輕qing鬆song擴kuo展zhan測ce試shi能neng力li
，並bing可ke以yi與yu各ge種zhong傳chuan感gan器qi設she備bei處chu理li係xi統tong結jie合he使shi用yong。該gai設she備bei可ke容rong納na16個S-TEST通用測試板（UTB）
，每個測試板可為4個傳感器提供接口資源。係統主通信接口為底盤通信控製器（CCB/ETH15）。它提供TCP/IP連接
、係統校準功能以及外部觸發輸入和輸出。

該SLT解決方案具有很高的測試容量

，能夠同時測試多個傳感器，從而提高測試效率。

每張UTB卡可以連接4個傳感器
，這意味著在單個測試係統中可以輕鬆擴展測試範圍
，滿足大規模傳感器生產測試的需求。

以太網接口卡（ETH）
，用於係統通信、測試和固件加載以及自校準：

以太網接口卡提供了高速、可靠的係統通信能力

，確保測試數據能夠實時
、準確地傳輸。

通過以太網接口卡，還可以方便地進行固件加載和自校準操作，提高測試係統的靈活性和可維護性。

SLT解決方案集成了電源模塊
，為傳感器提供穩定、可靠的電力供應。

LED係統狀態指示燈能夠直觀地顯示測試係統的當前狀態
，如測試進行中、測試完成
、故障等。

集成風扇能夠確保測試係統在長時間運行過程中保持穩定的溫度環境。

該SLT解決方案支持帶時間戳的並行采樣功能，能夠同時采集多個傳感器的數據
，並記錄每個數據點的時間戳。

S-TEST（BSI）風扇單元（1HE）

傳感器批量生產測試

在溫度控製開關櫃中部署，實現從小批量測試到數百個傳感器高度並行測試的靈活切換

，滿足MEMS傳感器、工業傳感器等大規模生產需求。

傳感器特性與功能驗證

支持壓力
、加速度、光學、聲學等傳感器的測試，確保產品性能符合設計標準。

質量保證與校準

通過集成化校準功能，簡化測試流程，降低維護成本，適用於高精度計量和工業應用場景。